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基于IEEE1500的嵌入式SRAM存储测试结构

全部类型广西桂林2024年11月12日

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项目名称	基于IEEE 1500 的嵌入式SRAM存储测试结构		项目编号	****
知识产权名称	基于IEEE 1500 的嵌入式SRAM存储测试结构		所属区域	桂林
知识产权类型	实用新型		行业领域	电学
知识产权持有人 /挂牌申请人	点击登录查看
知识产权证书号 /登记号	ZL ****.1
知识产权正常情况下的有效期限	**- **
知识产权权属	独占
许可情况	未实施许可
项目阶段	试生产阶段
交易/合作方式	许可、转让或技术入股
合作价格	面议
知识产权及合作简介	本实用新型公开了一种基于IEEE1500的嵌入式SRAM存储器测试结构,该测试结构由嵌入式SRAM的测试壳封装与SRAM测试控制器两部分构成,测试封装壳解决了嵌入式SRAM的测试访问、测试隔离和测试的控制问题,SRAM测试控制器根据测试算法生成测试激励数据、控制封装壳Wrapper、进行响应分析、输出测试结果。应用该测试结构及测试方法,能够检测出嵌入式SRAM存储器存在的故障,有利于嵌入式SRAM存储器的测试复用,可以有效的提高SoC的集成效率。
联系方式	****	联系人		点击登录查看
联系地址	广西南宁市****

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