XRD测试(第二次询价)XJ024070500869
全部类型云南昆明2024年07月06日
公告详情
XRD测试(第二次询价)
可报价开始时间:**** 09:00:00
可报价结束时间:**** 09:00:00
编号:****
参与方式:公开询价
出价方式:一次性出价
付款方式:验收合格付款
是否必须加盖电子签章:否
保证金:0.0元
联系方式:****
备注:报价供应商必须拥有相应资质,测试结束后需出具测试报告,检验和试验项目(或/及要求):项目中期验收指标需要进行高分辨XRD的第三方测试,测试InGaAs材料的半峰 宽,判断晶体质量是否达到项目要求的≤50arcsec。 检验和试验依据(制造与验收技术条件、合同、测试大纲等) :短波InGaAs红外探测器芯片异构集成技术测试大纲。
采购方发布的采购清单
商品名称 | 品类 | 采购数量 | 最少响应量 | 测试要求 | 备注 |
高分辨XRD测试 | 服务类 | 1.0次 | 1.0次 | 详见备注 | 测试结束后须出具测试报告,如有样品需返还样品 |
信息来源:https://msapi.norincogroup-ebuy.com/tdweb/index/goods/********?ssid=M80160&subsystem=S00000&sid=M80160#571925